芯片失效分析检测是判断芯片失效性质、分析失效原因、研究预防措施的技术工作。其目的在于提高芯片品质，改善生产方案，从而保障产品品质。

AEC-Q认证服务是专门针对汽车电子零部件设计的一系列质量评估与可靠性测试服务。它旨在确保汽车电子部件能够在各种复杂多变的环境下稳定工作，为汽车的安全性和性能提供坚实的保障。

车规电子元器件认证是对用于汽车电子领域的元器件进行的一系列严格测试和认证，以确保它们能在汽车的各种复杂环境中稳定、可靠地运行。

半导体元器件失效分析检测采用光学传感器、红外线探测器或显微镜等技术，通过观察和分析半导体元器件表面的光学特征，来识别缺陷、污染或结构问题。

广电计量车规电子元器件AEC-Q全系认证服务建成并具备了覆盖AEC-Q100、101、102、104、200全套认证测试能力，有利地支撑国产电子元器件的设计、制造、终端应用过程中的产品分析测试需求。

X-ray元器件无损检测失效分析：X-ray检测是一种发展成熟的无损检测方式，目前广泛应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。广电计量可针对对金属材料及零部件、电子元器件、电缆，装具，塑料件等进行X-ray无损检测。

光电热机械全参数测试 光电器件：广电计量光、电、热、机械全参数测试服务可与企业合作，深入产品研发阶段，有效为产品研发和定型提供测试保障。

传感器液体冷热冲击试验：液态冷热冲击试验主要用于两个装置内部的液体冷热交替循环试验。冷热冲击试验是评价散热器抗温度交变循环能力的强化试验，为冷却器的设计提供试验数据，也是验证冷热交变温度下非金属-金属连接件的可靠性，对保证换热器质量和提高其可靠性具有重要作用。广电计量可提供传感器液态冲击试验服务。